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单选题
EDI组件实际运行()规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。
A

电流低于

B

电流高于

C

压力低于

D

压力高于


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
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考题 EDI组件实际运行电流低于规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A对B错

考题 EDI系统在运行过程中,为避免浓水中离子过度积累,需要将部分浓水排放掉。A对B错

考题 EDI运行有一个最佳温度范围,温度高于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低。A对B错

考题 EDI组件实际运行电流高于规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。A对B错

考题 变价金属离子对EDI组件的影响是离子不能被完全清除,使产品水的电阻率降低。A对B错

考题 为避免EDI组件浓水中离子过度积累,需要将部分浓水排放。排放量为纯水流量10~20%,排放掉的浓水由EDI产品水补充。A对B错

考题 EDI组件给水中的有机物被吸引到树脂和膜的表面,导致其被污染,使得被污染的膜和树脂迁移离子效率降低,膜堆电阻将增加。A对B错

考题 EDI组件实际运行电流低于规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。

考题 为避免EDI组件浓水中离子过度积累,需要将部分浓水排放。排放量为纯水流量10~20%,排放掉的浓水由EDI产品水补充。

考题 EDI组件中的工作树脂承担着()的任务。A、除去大部分离子B、去除像弱电解质等较难清除离子C、除去阳离子D、除去阴离子

考题 EDI运行有一个最佳温度范围,温度高于规定值,离子泄漏量增加,产品水水质将降低。

考题 EDI组件实际运行()规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。A、电流低于B、电流高于C、压力低于D、压力高于

考题 EDI组件给水中的有机物被吸引到树脂和膜的表面,导致其被污染,使得被污染的膜和树脂迁移离子效率降低,膜堆电阻将增加。

考题 变价金属离子对EDI组件的影响是离子不能被完全清除,使产品水的电阻率降低。

考题 EDI系统在运行过程中,为避免浓水中离子过度积累,需要将部分浓水排放掉。

考题 EDI组件实际运行()规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A、电流低于B、电流高于C、压力低于D、压力高于

考题 变价金属离子对EDI组件的影响是()。A、引起离子交换树脂中毒B、对离子交换树脂氧化催化作用,会造成树脂的永久损伤C、引起离子极化现象使产品水的电阻率降低D、离子不能被完全清除,使产品水的电阻率降低

考题 EDI组件给水中的有机物被吸引到树脂和膜的表面,导致其被污染,使得被污染的膜和树脂()效率降低,膜堆电阻将增加。A、再生B、利用C、交换D、迁移离子

考题 EDI组件实际运行电流高于规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。

考题 多选题变价金属离子对EDI组件的影响是()。A引起离子交换树脂中毒B对离子交换树脂氧化催化作用,会造成树脂的永久损伤C引起离子极化现象使产品水的电阻率降低D离子不能被完全清除,使产品水的电阻率降低

考题 判断题EDI组件实际运行电流高于规定值,产品水中离子不能被完全清除,部分离子将残留于淡水中。A 对B 错

考题 单选题EDI组件实际运行()规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A 电流低于B 电流高于C 压力低于D 压力高于

考题 判断题EDI系统在运行过程中,为避免浓水中离子过度积累,需要将部分浓水排放掉。A 对B 错

考题 单选题EDI组件给水中的有机物被吸引到树脂和膜的表面,导致其被污染,使得被污染的膜和树脂()效率降低,膜堆电阻将增加。A 再生B 利用C 交换D 迁移离子

考题 判断题为避免EDI组件浓水中离子过度积累,需要将部分浓水排放。排放量为纯水流量10~20%,排放掉的浓水由EDI产品水补充。A 对B 错

考题 判断题EDI组件实际运行电流低于规定值,可能引起离子极化现象使产品水的电阻率降低。A 对B 错

考题 判断题变价金属离子对EDI组件的影响是离子不能被完全清除,使产品水的电阻率降低。A 对B 错