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单选题
关于信噪比的叙述，错误的是（ ）。
A
英文简写为SNR
B
是信号与噪声之比
C
在实际的信号中一般都包含有两种成分，即有用信号和噪声
D
信噪比越大，信息传递质量越差
E
是评价电子设备的一项重要的技术指标
参考答案
参考解析
解析：
信噪比是信号与噪声之比的简称，信噪比越大，噪声对信号的影响越小，信息传递质量就越高，信噪比是评价电子设备的一项重要的技术指标。
信噪比是信号与噪声之比的简称，信噪比越大，噪声对信号的影响越小，信息传递质量就越高，信噪比是评价电子设备的一项重要的技术指标。
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考题
关于量子检出率(DQE)的叙述错误的是( )。A.指成像系统中输出信号(信噪比平方)与输入信号(信噪比平方)之比B.可以解释为成像系统中有效量子的利用率C.DQE最高值为10D.DQE值越高，有效量子利用率高E.DQE值越高，输出信息也就越高
考题
下面关于信噪比的描述,错误的是()
A.波分系统中大量使用EDFA是造成信噪比劣化的最重要原因;B.信号经过多级WLA级联后比经过多级WBA级联后的信噪比劣化严重一些;C.用光谱分析仪在D40单板下波后测试的信噪比会比在IN口测试的信噪比的值要大一点;D.提高信噪比的方法是提高光功率，因此光功率高信噪比就一定高
考题
关于DWI中b值对图像影响的叙述，正确的是（）A、b值越高对水分子扩散运动越敏感B、b值越低对水分子扩散运动越敏感C、太高的b值得到的DWI信噪比（SNR）很低D、较小的b值得到的图像信噪比较高E、b值越高得到的图像信噪比越高
考题
有关提高信噪比的描述，错误的是（）A、尽量使用小线圈以提高信噪比B、尽量使用较大线圈以提高信噪比C、一般地说，机器的磁场越高，信噪比越高D、信号采集次数越多，信噪比越高E、扫描层面越厚，信噪比越高
考题
关于快速自旋回波的叙述，错误的是（）A、由J.Henning于1986年提出B、在美国称作FSE，在欧洲称作TSEC、一次激发可以采集K空间的几行D、信噪比较SE高E、成像速度比SE快
考题
以下关于信息理论在射线照相方面的论述，哪一条是错误的（）A、所谓“噪声“即是底片的颗粒度B、信噪比是指缺陷影象对比度ΔD与噪声σD之比C、只要信噪比大于1，缺陷就能够识别D、信噪比越大，缺陷识别就越容易
考题
单选题关于图像的合成或积分的叙述，错误的是（ ）。A
图像的合成或积分是一种空间滤过处理B
积分因素越多，图像噪声越高C
积分因素越多，图像噪声越低D
积分法能有效地使图像平滑E
提高信噪比，改善图像质量
考题
单选题关于快速自旋回波的叙述，错误的是（ ）。A
由J.Henning于1986年提出B
在美国称作FSE，在欧洲称作TSEC
一次激发可以采集K空间的几行D
信噪比较SE高E
成像速度比SE快
考题
单选题关于信噪比的叙述，正确的是（ ）。A
信噪比是评价电子设备的一项重要的技术指标B
信噪比越大，噪声对信号影响越大C
信噪比越大，信息传递质量越低D
噪声对信号影响越大，信号传递质量就越高E
噪声无处不在，是检测性的概念
考题
多选题关于扫描层厚的叙述，正确的是（）A层厚取决于射频的带宽和层面选择梯度场强B层厚越厚，信号越强，图像信噪比越高C层厚越薄，信号越强，图像信噪比越高D层厚厚，容易产生部分容积效应E层厚越薄，空间分辨力越高，而信噪比降低
考题
单选题关于量子检出率（DQE）的叙述错误的是（）A
指成像系统中输出信号（信噪比平方）与输入信号（信噪比平方）之比B
可以解释为成像系统中有效量子的利用率C
DQE最高值为10D
DQE值越高，有效量子利用率高E
DQE值越高，输出信息也就越高
考题
单选题有关提高信噪比的描述，错误的是（）A
尽量使用小线圈以提高信噪比B
尽量使用较大线圈以提高信噪比C
一般地说，机器的磁场越高，信噪比越高D
信号采集次数越多，信噪比越高E
扫描层面越厚，信噪比越高
考题
单选题关于提高信噪比的描述，不正确的是（ ）。A
尽量使用较大线圈以提高信噪比B
信号采集次数越多，信噪比越高C
尽量使用小线圈以提高信噪比D
扫描层面越厚，信噪比越高E
一般地说，机器的磁场越高，信噪比越高
考题
单选题关于信噪比的说法，正确的是（ ）。A
兴趣区内，最高信号与最低信号的差值与背景噪声的比值B
信噪比越高越好C
信噪比与体素大小直接相关，与设备的场强大小无关D
成像的体素越大，信噪比越高；体素越小，信噪比越低E
信噪比与射频线圈类型无关
考题
单选题以下关于信息理论在射线照相方面的论述，哪一条是错误的（）A
所谓“噪声“即是底片的颗粒度B
信噪比是指缺陷影象对比度ΔD与噪声σD之比C
只要信噪比大于1，缺陷就能够识别D
信噪比越大，缺陷识别就越容易
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