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填空题
要测定矿物的轴性及光性正负,最好选择在正交偏光镜间()干涉色的切面。

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考题 正交偏光镜下晶体薄片与补色器异名轴重叠会使()A、干涉色升高B、干涉色降低C、干涉色变化,升降视具体情况定

考题 正交偏光镜下晶体薄片与石膏板同名轴重叠,干涉色升高一个色序

考题 简述一轴晶垂直光轴切面的干涉图形象特点如何?怎样利用它来测定光性?

考题 填空题要准确测定普通辉石的消光角(Ng∧Z),必须选择()的切面,这种切面在正交镜下的特征是具有()。

考题 单选题正交偏光镜下晶体薄片与补色器异名轴重叠会使()A 干涉色升高B 干涉色降低C 干涉色变化,升降视具体情况定

考题 单选题当长条状的二轴晶矿物颗粒(或切片)在正交偏光镜下处于最亮的位置(II,IV象限)时,插入石膏试板,矿片干涉级序降低,与该切面长轴一致光率体椭圆半径长轴应为()。A NoB NpC NgD Ne

考题 填空题要准确测定普通角闪石的消光角(Ng^C)必须选择平行()的切面,这种切面在正交镜下的特点是。

考题 填空题一轴晶矿物光率体的三个主要的切面(),这些切面按多色性程度由小到大排列顺序()。

考题 单选题单偏光镜下主要观察矿物的()光性性质。 。A 形态、解理、颜色和多色性,与矿物折射率有关的突起、糙面、贝克线等。B 矿物的双晶、消光类型和消光角;C 矿物的干涉色级序、双折射率、延性符号等

考题 单选题当解理缝细密的黑云母在正交偏光镜下处于最亮的位置(II,IV象限)时,插入石膏试板,矿片干涉级序降低,与该切面长轴一致光率体椭圆由()组成。A Ng-NmB Ng-NpC Nm-NmD Nm-Np

考题 判断题正交偏光镜下晶体薄片与石膏板同名轴重叠,干涉色升高一个色序A 对B 错

考题 单选题在正交偏光镜间,同一矿物不同颗粒出现不同的干涉色,是以为()。A 不同的颗粒具有不同的颜色B 不同的颗粒具有不同成分C 不同的颗粒具有不同的厚度D 不同的颗粒具有的切面

考题 单选题正交偏光镜下晶体光率体主轴与偏光振动方向的夹角影响()A 晶体干涉色的级序B 晶体干涉色的颜色C 晶体干涉色的亮度

考题 问答题二轴晶垂直Bxa切面的干涉图形象特点如何?怎样利用它来测定光性?

考题 判断题要测定矿物的轴性和光性符号,应该选择在正交偏光下干涉色最高的切面。A 对B 错

考题 填空题某二轴晶矿物的Y晶轴与光率体主轴Ng一致,其最大双折率为0.009,薄片厚度为0.03mm,在平行(010)的切面上具有垂直Bxa切面的干涉图,此矿物应为(),光轴面上的干涉色为()。

考题 填空题两个非均质体矿片的任意方向切面,在正交偏光镜间45°重叠,同名半径平行,此时矿片的干涉色()。

考题 单选题有一个绿色非均质体矿物,在单偏光镜下表现为颜色无变化,在正交偏光镜下全消光,试问该切面为()。A ⊥Bxa切面B ⊥OA切面C ∥OA切面D ⊥AP切面

考题 单选题当矿片在正交偏光镜间,处于消光位时,加入石膏试板后出现()。A 一级红干涉色B 二级蓝干涉色C 二级黄干涉色D 一级灰白干涉色

考题 单选题在正交偏光镜下,有一一轴晶的矿物,显示不同的干涉色,试问在什么样的干涉色切面上能够观察到黑十字,且黑十字的中心在视域中心()。A 干涉色为一级灰黑B 干涉色为二级红C 干涉色为一级灰白D 全消光

考题 单选题正交偏光镜有一个灰干涉色的非均质体矿物,插入石膏试板后干涉色为一级黄,那么干涉色的级序()。A 升高B 降低C 不动D 二级干涉色

考题 单选题石榴石任意切面放在正交偏光镜下,转动360°,将会出现()。A 两次消光B 两次消色C 全消光D 两次干涉

考题 问答题在正交偏光镜下如何寻找合适的矿物颗粒或不同干涉色的矿物颗粒?

考题 填空题用垂直二轴晶二光轴()(Bxa)切面的干涉图测定光性时,将干涉图转至(),即()形黑臂置于(),插入补色器后,锐角区(即两黑臂之间)干涉色升高,晶体为()

考题 判断题一轴晶平行光轴切面的干涉图与二轴晶平行光轴面切面的干涉图特点完全一样,在轴性明确的情况下也不能用作光性正负的测定。A 对B 错

考题 问答题观察二轴晶矿物多色性的明显程度应选择哪种切面?为什么?应如何测定Ng和Np的颜色?