考题
B型显示探伤仪不能直观显示出缺陷深度。()
此题为判断题(对，错)。
考题
C型显示所能提供的超声波探伤记录,其主要参数是()
A、缺陷深度和尺寸B、缺陷深度、取向和尺寸C、缺陷的位置和深度D、缺陷的位置和尺寸(平面视图)
考题
一种超声波探伤仪可直观显示出被检工件在入射截面上的缺陷分布和缺陷深度，这种仪器显示是()A.A型显示
B.B型显示
C.C型显示
D.以上都不是
考题
A型显示即是用示波器显示缺陷深度及其在横截面上的分布。
考题
C型显示即是用示波器或记录仪显示缺陷在平面视图上的分布。
考题
C型显示即是用示波器显示缺陷深度及缺陷反射信号幅值。
考题
A型显示即是用示波器显示缺陷深度及缺陷反射信号幅值。
考题
A型显示中，横坐标显示是（）A、反射波幅度大小B、探头移动距离C、反射波传播时间D、缺陷尺寸大小
考题
一种超声波探伤仪可直观地显示被检工件任一纵截面上缺陷的分布及缺陷的深度，这种显示是（）。A、 A型显示B、 B型显示C、 C型显示D、 以上都是
考题
一种超声波探伤仪可直观显示出被检工件在入射截面上的缺陷分布和缺陷深度，这种仪器显示是（）A、A型显示B、B型显示C、C型显示D、以上都不是
考题
A型显示中，横坐标显示是（）。A、反射波幅度大小B、 探头移动距离C、 反射波传播时间（或距离）D、 缺陷尺寸大小
考题
超声波仪器的C型显示能显示工件中缺陷在探测方向上的面积投影，但不能显示其深度。
考题
零件的材料组织或密集的细小缺陷在荧光屏只产生许多小信号显示叫做（）。A、底面反射B、表面反射C、缺陷反射D、杂波
考题
零件的材料组织或密集的细小缺陷在荧光屏只产生许多小信号的显示叫做（）。A、 底面反射B、 表面反射C、 缺陷反射D、 杂波
考题
探伤仪中A型显示是超声信号反射高度与声波传递时间或反射体深度关系的脉冲显示法。
考题
用示波器观察某信号波形时，要达到以下要求，应调节哪些旋纽？①波形清晰；②波形稳定；③改变所显示波形的周期数；④改变所显示波形的幅值。
考题
单选题一种超声波探伤仪可直观地显示被检工件任一纵截面上缺陷的分布及缺陷的深度，这种显示是（）。A
A型显示B
B型显示C
C型显示D
以上都是
考题
判断题A型显示即是用示波器显示缺陷深度及其在横截面上的分布。A
对B
错
考题
单选题一种超声波探伤仪可直观显示出被检工件在入射截面上的缺陷分布和缺陷深度，这种仪器显示是（）A
A型显示B
B型显示C
C型显示D
以上都不是
考题
判断题C型显示即是用示波器显示缺陷深度及缺陷反射信号幅值。A
对B
错
考题
判断题C型显示即是用示波器或记录仪显示缺陷在平面视图上的分布。A
对B
错
考题
判断题B型显示能够展现工件内缺陷的埋藏深度。A
对B
错
考题
单选题零件的材料组织或密集的细小缺陷在荧光屏只产生许多小信号的显示叫做（）。A
底面反射B
表面反射C
缺陷反射D
杂波
考题
单选题A型显示中，横坐标显示是（）A
反射波幅度大小B
探头移动距离C
反射波传播时间D
缺陷尺寸大小
考题
判断题A型显示探伤仪，利用D.G.S曲线板可直观显示缺陷的当量大小和缺陷深度。A
对B
错
