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单选题
在下列方法中，适合于粗晶材料探伤的是（）
A

采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤

B

将接触法探伤改为液浸法探伤

C

采用小直径探头探伤

D

以上都是

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考题 常用的焊缝无损检测方法中，适合于焊缝内部缺陷检测的方法是（ ）。A.射线探伤B.涡流探伤C.磁性探伤D.渗透探伤
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考题 粗晶材料的探伤可选用()频率的探头A.2.5MHz B.1.25MHz C.5MHz D.10MHz
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考题 常用的焊缝无损检测方法中，适合于焊缝内部缺陷检测的方法是（ ）。2013 A．射线探伤B．涡流探伤C．磁性探伤D．渗透探伤
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考题 常用的焊缝无损检测方法中，适合于焊缝内部缺陷检测的方法是()。 2013年A . 射线探伤 B . 涡流探伤 C . 磁性探伤 D . 渗透探伤
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考题 （2013年真题）常用的焊缝无损检测方法中，适合于焊缝内部缺陷检测的方法是（ ）A.射线探伤 B.涡流探伤 C.磁性探伤 D.渗透探伤
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考题 适合于焊缝内部缺陷的无损检测方法有()。 A、射线探伤 B、超声波探伤 C、渗透探伤 D、磁性探伤 E、涡流探伤
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考题 下列焊缝质量检测方法中，适合于检测焊缝表面缺陷的方法有（ ）。A.射线探伤 B.超声波探伤 C.渗透探伤 D.磁性探伤E.：光谱分析
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考题 适合于焊缝内部缺陷的无损检测方法是（ ）。 A.射线探伤 B.磁粉探伤 C.超声探伤 D.涡流探伤 E.渗透探伤
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考题 适合于磁粉探伤的材料是（）A、顺磁性材料B、有色金属C、铁磁性材料D、抗磁性材料
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考题 热裂纹产生的主要原因是熔池在结晶过程中存在（）。A、淬硬组织B、低熔点共晶和杂质C、粗晶D、淬硬组织和粗晶
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考题 在下列方法中，适合于粗晶材料探伤的是（）A、采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤B、将接触法探伤改为液浸法探伤C、采用小直径探头探伤D、以上都是
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考题 在同频率下，粗晶材料中（）波穿透能力最大。
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考题 粗晶材料的探伤可选用（）频率的探头A、2.5MHzB、1.25MHzC、5MHzD、10MHz
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考题 下列哪一处无损探伤方法对探险测非铁性金属的晶界腐蚀最有效？（）A、光谱检查。B、X光探伤。C、磁力探伤。D、涡流探伤。
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考题 在超声波检测中，如果使用的探测频率过高，在探测粗晶材料时会出现（）
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考题 用频率较高的横波进行探伤可增大超声波在粗晶材料中的穿透能力。
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考题 GB/T4162-2008检验方法不适用于奥氏体粗晶钢棒的超声波探伤
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考题 在常用的五种探伤方法中，（）探伤只能检查铁磁性材料。A、射线B、磁粉C、渗透D、涡流
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考题 常用的焊缝无损检测方法中，适合于焊缝内部缺陷检测的方法是（）。A、射线探伤B、涡流探伤C、磁性探伤D、渗透探伤
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考题 粗晶材料探伤通常选用的超声频率为（）。A、2.5MHzB、1.25MHzC、5MHzD、10MHz
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考题 粗晶探伤应选用高频探头。
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考题 单选题适合于磁粉探伤的材料是（）A 顺磁性材料B 有色金属C 铁磁性材料D 抗磁性材料
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考题 多选题适合于焊缝内部缺陷的无损检测方法是（）。A射线探伤B磁粉探伤C超声探伤D涡流探伤E渗透探伤
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考题 单选题根据其颗粒的绝对大小可划分为：（）A 等粒变晶结构；不等粒变晶结构；斑状变晶结构B 粗粒变晶结构；中粒变晶结构；细粒变晶结构。C 极粗粒变晶结构；粗粒变晶结构；中粒变晶结构；细粒变晶结构。D 粗粒变晶结构；中粒变晶结构；细粒变晶结构；微粒变晶结构。
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考题 单选题常用的焊缝无损检测方法中，适合于焊缝内部缺陷检测的方法是（）A 射线探伤B 涡流探伤C 磁性探伤D 渗透探伤
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