网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:

题目内容 (请给出正确答案)
单选题
对运用中的悬式绝缘子串劣化绝缘子的检出测量,不应选用()的方法。
A

测量电位分布

B

火花间隙放电叉

C

热红外检测

D

测量介质损耗因数tgδ


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
更多 “单选题对运用中的悬式绝缘子串劣化绝缘子的检出测量,不应选用()的方法。A 测量电位分布B 火花间隙放电叉C 热红外检测D 测量介质损耗因数tgδ” 相关考题
考题 悬式绝缘子多组成绝缘子串,用于10kV及以上的线路。() 此题为判断题(对,错)。

考题 绝缘子带电测试的目的:一是检测出运行绝缘子串中零值和劣质绝缘子,并将其更换,以保证绝缘子串不发生闪络事故;二是通过对绝缘子的定期检测,分析评估绝缘子的劣化趋势。() 此题为判断题(对,错)。

考题 关于悬式绝缘子和支柱绝缘子的绝缘电阻测量的说法,正确的是()。A.每片悬式绝缘子的绝缘电阻值,不应低于300MΩ B.35kV及以下的支柱绝缘子的绝缘电阻值,不应低于500MΩ C.采用2500V兆欧表测量绝缘子的绝缘电阻值,可按同批产品数量的10%抽查 D.棒式绝缘子不进行此项试验 E.每片悬式绝缘子的绝缘电阻值,不应低于500MΩ

考题 耐张绝缘子串比悬垂绝缘子串易劣化,是因为绝缘子质量问题引起的。A对B错

考题 lOkV配电线路中,耐张杆应选用()。A、悬式绝缘子B、针式绝缘子C、蝶式绝缘子D、合成绝缘子

考题 对普通悬式绝缘子串的盐密测量,应测取()绝缘子的平均值。A、2片B、3片C、4片D、5片

考题 对于普通悬式绝缘子串盐密测量取样,可取上、中、下三片的平均值,也可取整串测测量结果。

考题 对运用中的悬式绝缘子串劣化绝缘子的检出测量,不应选用()的方法。A、测量电位分布B、火花间隙放电叉C、热红外检测D、测量介质损耗因数tgδ

考题 绝缘子带电测试的目的:一是检测出运行绝缘子串中零值和劣质绝缘子,并将其更换,以保证绝缘子串不发生闪络事故;二是通过对绝缘子的定期检测,分析评估绝缘子的劣化趋势。

考题 不适合用火花间隙法检测的绝缘子是()。A、针式绝缘子;B、柱式绝缘子;C、少于4片的悬式绝缘子串;D、以上全选。

考题 悬式绝缘子多组成绝缘子串,用于35kV及以上的线路上。

考题 悬式绝缘子串组装对碗口方向没有规定。

考题 耐张绝缘子串比悬垂绝缘子串易劣化,是因为绝缘子质量问题引起的。

考题 耐张绝缘子串比悬垂绝缘子串易劣化,这是由绝缘子的质量问题引起的。

考题 绝缘子的劣化测量有哪些方法?

考题 10kV配电线路中,直线杆应选用()A、悬式绝缘子B、针式绝缘子C、蝶式绝缘子D、合成绝缘子

考题 对运用中的悬式绝缘子串劣化绝缘子的检出测量,应选用()的方法。A、测量电位分布B、火花间隙放电叉C、热红外检测D、测量介质损耗因数tanδ

考题 对运用中的悬式绝缘子串劣化绝缘子的检出测量,不应选用()的方法A、测量电位分布B、测量电流分布C、火花间隙放电叉D、热红外检测

考题 配电线路的10kV线路中,直线杆应选用()。A、悬式绝缘子B、针式绝缘子C、蝶式绝缘子D、合成绝缘子

考题 对运行的悬式绝缘子串中劣化绝缘子的检出测量,可以采用的试验方法有()。A、测量电位分布B、火花间隙放电C、热红外测量D、测量绝缘电阻

考题 悬式绝缘子多组成绝缘子串,用于10kV及以上的线路。

考题 悬式绝缘子安装于哪些杆塔?作为什么绝缘子串使用?

考题 悬式绝缘子劣化的原因和缺陷的表现形式是哪些?

考题 依据《交流架空输电线路用绝缘子使用导则》,依据《交流架空输电线路用绝缘子使用导则》,运行瓷、玻璃同串绝缘子的劣化片数达到下列哪种情况必须立即整串更换()A、110kV线路绝缘子累积劣化绝缘子2片B、220kV线路绝缘子累积劣化绝缘子3片C、330kV线路绝缘子累积劣化绝缘子3片D、500kV线路绝缘子累积劣化绝缘子8片E、750kV线路绝缘子累积劣化绝缘子12片

考题 单选题对运用中的悬式绝缘子串劣化绝缘子的检出测量,不应选用()的方法A 测量电位分布B 测量电流分布C 火花间隙放电叉D 热红外检测

考题 问答题绝缘子的劣化测量有哪些方法?

考题 单选题绝缘子按结构分可分为哪几类绝缘子?()A 悬式绝缘子、棒式绝缘子、钢化绝缘子B 悬式绝缘子、瓷绝缘子、针式绝缘子C 悬式绝缘子、棒式绝缘子、复合式绝缘子D 悬式绝缘子、棒式绝缘子、针式绝缘子