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题目内容
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单选题
当量小的缺陷实际尺寸（）
A
一定小
B
不一定小
C
一定不小
D
等于当量尺寸
参考答案
参考解析
解析：
暂无解析
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考题
用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响)，它们的当量()。A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的大C、面积大的，当量反而比面积小的小D、它们的当量相等
考题
厚度均为400mm但材质衰减不同的两个锻件，各自采用底波校正灵敏度（Φ2mm平底孔），在工件中间相同声程处发现相同波高的缺陷，则（）A、两个缺陷当量相同B、衰减大的锻件中缺陷当量小C、衰减小的锻件中缺陷当量小D、不一定
考题
用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的大C、面积大的，当量反而比面积小的小D、相等
考题
单选题厚度均为400mm但材质衰减不同的两个锻件，各自采用底波校正灵敏度（Φ2mm平底孔），在工件中间相同声程处发现相同波高的缺陷，则（）A
两个缺陷当量相同B
衰减大的锻件中缺陷当量小C
衰减小的锻件中缺陷当量小D
不一定
考题
单选题用单探头法探测二个表面平整，但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同切不工件界面的影响），它们的当量（）A
面积大的，当量也一定大B
面积大的，当量不一定比面积小的为大C
面积大的，当量反而要比面积小的要小D
它们的当量相等
考题
单选题用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。A
面积大的，当量也一定大B
面积大的，当量不一定比面积小的大C
面积大的，当量反而比面积小的小D
相等
考题
单选题当量大的缺陷实际尺寸（）A
一定大B
不一定大C
一定不大D
等于当量尺寸
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