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单选题
胶片射线照相时，象质计通常放在（）
A

增感屏和胶片之间

B

胶片侧工件表面

C

射源侧工件表面

D

B和C都有可能

参考答案

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考题 按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，单壁透照中，如果像质计无法放在源侧而放在胶片侧时，应在像质计适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告上注明。()
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考题 平板射线照相时，下面四种关于象质计摆放的叙述，唯一正确的位置是（）A、近胶片一侧的工件表面，并应靠近胶片端头；B、近射源一侧的工件表面，金属丝垂直焊缝，并位于工件中部；C、近胶片一侧的工件表面，并应处在有效照相范围一端的焊缝上，金属丝垂直于焊缝，细丝在外；D、近射源一侧有效照相范围一端的焊缝上，金属丝垂直于焊缝，细丝在外。
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考题 当象质计放在胶片侧工件表面时，应附加（）标记以示区别。
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考题 射线照相图象的密度是指：（）A、胶片厚度B、试样厚度C、胶片重量D、胶片黑化度
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考题 当采用双壁单影透照法时，象质计应放在（）。
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考题 胶片射线照相时，象质计通常放在（）A、增感屏和胶片之间B、胶片侧工件表面C、射源侧工件表面D、B和C都有可能
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考题 有关像质计使用的说法正确的是（）A、摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B、采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D、以上都对
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考题 射线照相中，使用象质计的主要目的是（）A、测量缺陷大小B、评价底片灵敏度C、测定底片清晰度D、以上都是
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考题 透度计用来指示（）A、零件中缺陷的尺寸B、胶片密度C、胶片对比度D、射线照相底片的质量
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考题 在对焊缝作射线照相时，线型像质计应放在有效照相范围的下述哪个位置？（）A、透照场中心，焊缝上（与射线源同侧）B、透照场一端，焊缝上（与射线源同侧）C、透照场中心，焊缝上（与胶片同侧）D、透照场一端，焊缝上（与射线源异侧）
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考题 测试射线实时成像系统图像分辨力通常用（）A、孔型象质计B、线对测试卡C、双丝象质计D、B和C
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考题 胶片射线照相时，透度计通常放于：（）A、增感屏和胶片之间B、被检物体靠近射线源地一侧C、被检物体靠近胶片地一侧D、操作者和射线源之间
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考题 通常应将像质计放在工件射线源侧的表面上，并靠近被检工件的边缘。
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考题 以下有关对比试验的说法正确的是（）A、像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B、如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时，可通过对比试验进行修正C、像质计应横跨焊缝放置D、以上都对
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考题 像质计是用来鉴定照相技术和胶片处理质量的器件。
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考题 采用射线源至于圆心位置的周向曝光技术时，象质计应放在（），每隔90度放一个。
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考题 射线照相法是利用X、γ射线穿透工件，以（）作为记录信息的无损检测方法。A、像质计B、胶片C、评定尺D、增感屏
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考题 采用中子照相法时，其曝光需要先经过转换屏转换，然后（）。A、直接在荧光屏显示缺陷图象B、利用荧光增感屏+X射线胶片曝光C、再使用X射线胶片曝光D、以上都不对
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考题 当采用像质计置放在胶片侧时，应在胶片上放置识别铅字母，例如“F”，以示该底片上像质计影像与放置在射源侧情况的区别。
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考题 射线照相检验，透度计通常放在（）。A、增感屏和胶片之间B、被检物体靠近射线源的一侧C、被检物体靠近胶片的一侧D、增感屏和被检物体之间
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考题 当采用像质计置放在胶片侧时，应在胶片上放置识别铅字母，例如“F”，以示该底片上像质计影像与放置在放射源侧情况的区别。（）
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考题 填空题当象质计放在胶片侧工件表面时，应附加（）标记以示区别。
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考题 单选题在对焊缝作射线照相时，线型像质计应放在有效照相范围的下述哪个位置？（）A 透照场中心，焊缝上（与射线源同侧）B 透照场一端，焊缝上（与射线源同侧）C 透照场中心，焊缝上（与胶片同侧）D 透照场一端，焊缝上（与射线源异侧）
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考题 单选题测试射线实时成像系统图像分辨力通常用（）A 孔型象质计B 线对测试卡C 双丝象质计D B和C
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考题 单选题射线照相检验，透度计通常放在（）。A 增感屏和胶片之间B 被检物体靠近射线源的一侧C 被检物体靠近胶片的一侧D 增感屏和被检物体之间
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考题 单选题胶片射线照相时，透度计通常放于：（）A 增感屏和胶片之间B 被检物体靠近射线源地一侧C 被检物体靠近胶片地一侧D 操作者和射线源之间
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