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题目内容
(请给出正确答案)
单选题
通常试件的缺陷可能在底片上显示为()
A
较黑部分
B
较白部分
C
以上都对
D
以上都错
参考答案
参考解析
解析:
暂无解析
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考题
RT底片欲得较真实的缺陷尺寸则应()A、缩小射线至底片的距离,且将底片紧贴试件B、增加射线至底片的距离,且将底片紧贴试件C、缩小射线至底片的距离,且将底片远离试件D、增加射线至底片的距离,且将底片远离试件
考题
下列有关漏磁通的叙述正确的是()。A、内部缺陷处的漏磁通,比同样大小的表面缺陷为大B、缺陷的漏磁通通常同试件上的磁通密度成反比C、表面缺陷的漏磁通密度,随着离开表面距离的增加而急剧减弱D、用有限线圈磁化长的试件,不需进行分段磁化
考题
问答题透照某试件时,放在焦点侧试件表面的象质计最小可见线径为0.25mm,以此作为底片1,此时散射比n1=1.4,然后用铅光阑和屏蔽板时散射比n2=0.5,再摄一张同黑度的底片,以此作为底片2,假定X射线机、管电压、管电流、焦距、胶片、增感屏均不变。底片2上同一直径的金属丝影象对比度是底片1上的几倍?
考题
单选题像质计的功用是()A
显示缺陷的大小B
显示底片的黑度C
显示底片的对比度D
显示照相的品质
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