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单选题
秩和检验的优点是()。
A
犯判断错误概率小
B
不拘于分布类型
C
适用于两组均数的比较
D
适用于两个率的比较
E
充分利用样本信息
参考答案
参考解析
解析:
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考题
卡方检验的应用,不包括()。
A.用于两个样本率的比较B.用于多个样本率之间比较C.用于两个样本均数的比较D.两组或多组资料内部构成比之间差别的检验E.还可用于判定某一频数分布是否符合某一理论分布
考题
关于基于秩次的非参数检验,下列说法错误的是( )
A、符号秩和检验中,差值为零不参加编秩B、两样本比较的秩和检验方法中的正态近似法为参数检验C、当符合正态假定时,非参数检验犯Ⅱ类错误的概率较参数检验大D、当样本足够大时,秩和分布近似正态E、秩和检验适用于检验等级资料、可排序资料和分布不明资料的差异
考题
关于基于秩次的非参数检验,下列说法错误的是()A符号秩和检验中,差值为零不参加编秩B两样本比较的秩和检验方法中的正态近似法为参数检验C当符合正态假定时,非参数检验犯II类错误的概率较参数检验大D当样本足够大时,秩和分布近似正态E秩和检验适用于检验等级资料、可排序资料和分布不明资料的差异
考题
四个处理组均数比较时,直接采用两组比较的t检验()A、会增加犯Ⅰ型错误的概率B、会增加犯Ⅱ型错误的概率C、会出现检验效能不够的情况D、由于方差分析的两两比较方法不完善,故t检验更优E、不能确定犯Ⅰ型错误和Ⅱ型错误的概率
考题
四个处理组均数比较时,直接采用两组比较的t检验()A、会增加犯Ⅰ型错误的概率B、会增加犯Ⅱ型错误的概率C、会出现检验效能不够的情况D、由于方差分析的两两比较方法不完善,故t检验更优E、不能确定犯Ⅰ型错误和Ⅱ型错误的概率是否会增加
考题
完全随机设计的两组计量资料(数据呈正态分布)比较时,一般首选()。A、配对t检验B、四格表X2检验C、配对符号秩和检验D、完全随机设计两样本均数比较的t检验E、完全随机设计两样本资料的秩和检验
考题
单选题关于基于秩次的非参数检验,下列说法错误的是()。A
符号秩和检验中,差值为零不参加编秩B
两样本比较的秩和检验方法中的正态近似法为参数检验C
当符合正态假定时,非参数检验犯Ⅱ类错误的概率较参数检验大D
当样本足够大时,秩和分布近似正态E
秩和检验适用于检验等级资料、可排序资料和分布不明资料的差异
考题
单选题四个处理组均数比较时,直接采用两组比较的t检验()A
会增加犯Ⅰ型错误的概率B
会增加犯Ⅱ型错误的概率C
会出现检验效能不够的情况D
由于方差分析的两两比较方法不完善,故t检验更优E
不能确定犯Ⅰ型错误和Ⅱ型错误的概率
考题
单选题2×2表χ2检验可用于()A
两均数的比较B
两相对比的比较C
样本均数与总体均数的比较D
两组发生率的比较E
两组平均秩和的比较
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