考题
光电直读光谱仪与摄谱仪的区别在于A、激发光源不同B、检测系统不同C、色散元件不同D、光学系统不同E、原子化器不同
考题
半球辐射率的检测,是通过检测试样表面在()波长范围内的热辐射光谱反射率。
A．280-380nmB．380-780nmC．300-2500nmD．4.5-25μm
考题
用发射光谱法分析高纯稀土中微量稀土杂质 , 应选用 ( )
A.中等色散率的石英棱镜光谱仪B.中等色散率的玻璃棱镜光谱仪C.大色散率的多玻璃棱镜光谱仪D.大色散率的光栅光谱仪
考题
光栅摄谱仪的色散率 ,在一定波长范围内 ( )
A.随波长增加,色散率下降B.随波长增加,色散率增大C.不随波长而变D.随分辨率增大而增大
考题
下列哪个因素对棱镜摄谱仪与光栅摄谱仪的色散率均有影响? ( )
A.材料本身的色散率B.光轴与感光板之间的夹角C.暗箱物镜的焦距D.光线的入射角
考题
以光栅作单色器的色散元件，光栅面上单位距离内的刻痕线越少，则（）A光谱色散率变大，分辨率增高B光谱色散率变大，分辨率降低C光谱色散率变小，分辨率增高D光谱色散率变小，分辨率亦降低
考题
色散型X射线荧光光谱仪分为（）。A、能量色散型B、多色散型C、波长色散型D、热量色散型
考题
波长色散X射线荧光光谱仪上，在晶体和探测器之间的光束是（）光束。A、混合B、连续C、单色D、散射
考题
波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜
考题
波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言，灵敏度与分辨率成正比关系，高的色散率晶体往往反射率低。
考题
对同一台光栅光谱仪，其一级光谱的色散率比二级光谱的色散率（）。A、大一倍B、相同C、小一倍D、小两倍
考题
光栅摄谱仪的色散率，在一定波长范围内（）。A、随波长增加，色散率下降B、随波长增加，色散率增大C、不随波长而变D、随分辨率增大而增大
考题
波长色散X射线荧光光谱仪可分为扫（）、（）和（）三种类型。
考题
下列哪个因素对棱镜摄谱仪与光栅摄谱仪的色散率均有影响？（）A、材料本身的色散率B、光轴与感光板之间的夹角C、暗箱物镜的焦距D、光线的入射角
考题
你的实验中所用的发射光谱的摄谱仪的色散元件是（）；检测器是（）。
考题
当光纤的材料色散和波导色散在某个波长互相抵消时，光纤总的色度色散为零，该波长即为（）波长。
考题
光栅的色散率，在一定波长范围内，随波长增大而（）A、 增加B、 减少C、 不变
考题
光谱摄谱仪的色散率，在一定波长范围内（）A、随波长增加色散率不变B、随波长增加色散率增大C、不随波长而变D、随分辨率增大而增大
考题
光栅面上单位长度内刻槽数越多，则光谱仪的（）A、色散率变大，分辨率增大B、色散率变大，分辨率减小C、色散率变小，分辨率增大D、色散率变小，分辨率减小
考题
试从仪器的工作原理、仪器结构和应用三方面对波长色散型和能量色散型X荧光光谱仪进行比较。
考题
用光栅摄谱仪摄谱时，所得的光谱在一定的波长范围内，其波长的间隔分布是（）A、均匀等距离分布B、长波较密，短波较疏C、短波较密，长波较疏D、中间较密，两边较疏
考题
单选题光电直读光谱仪与摄谱仪的区别在于（）。A
激发光源不同B
检测系统不同C
色散元件不同D
光学系统不同E
原子化器不同
考题
单选题以光栅作单色器的色散元件，光栅面上单位距离内的刻痕线越少，则（）。A
光谱色散率变大，分辨率增高B
光谱色散率变大，分辨率降低C
光谱色散率变小，分辨率增高D
光谱色散率变小，分辨率亦降低
考题
单选题用发射光谱法分析高纯稀土中微量稀土杂质，应选用（）A
中等色散率的石英棱镜光谱仪B
中等色散率的玻璃棱镜光谱仪C
大色散率的多玻璃棱镜光谱仪D
大色散率的光栅光谱仪
考题
单选题下列哪种因素对棱镜摄谱仪的色散率和分辨率均有影响（）A
棱镜材料色散率B
暗箱物镜焦距C
棱镜顶角D
光轴与感光板之间的夹角
考题
单选题光栅的色散率，在一定波长范围内，随波长增大而（）A
增加B
减少C
不变
考题
单选题用光栅摄谱仪摄谱时，所得的光谱在一定的波长范围内，其波长的间隔分布是（）A
均匀等距离分布B
长波较密，短波较疏C
短波较密，长波较疏D
中间较密，两边较疏
