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测量小应变时,应选择灵敏度高的金属丝应变片,测量大应变时,应选用灵敏度低的半导体应变片。()


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考题 使用应变片和应变仪进行建筑结构应变实际测量时应注意的事项有哪些?

考题 电阻应变片的灵敏度系数K指的是(  )。 A、应变片电阻值的大小 B、单位应变引起的应变片相对电阻值变化 C、应变片金属丝的截面积的相对变化 D、应变片金属丝电阻值的相对变化

考题 现场采用计算机应变采集仪时,所有测量应变片测点可共用同一温度补偿片。

考题 现场测量时,应变片粘贴完毕后应及时涂上防护层,以防止应变片受潮和机械损伤。()

考题 ()测量方法的主要特点是:测试灵敏度高、标距小、滞后小,并且在复杂的环境中也可完成应变测量。A电阻应变片B手持式应变仪C振弦式应变计D百分表

考题 高应变动测和低应变动测的根本区别在于:高应变测桩承载力时应使桩周土进入(),而低应变测桩只要有()出现。

考题 应变片的粘贴技术是应变电测技术中一个很关键的环节,粘贴时应掌握下列技术环节。()A、选片B、定位C、干燥固化D、应变片的防护

考题 当测量较小应变值时,应选用电阻()效应工作的应变片,而测量大应变值时,应选用()效应工作的应变片,后者应变片阻值的相对变化主要由材料的相对变化来决定。

考题 当测量较小应变值时,应选用()工作的应变片,而测量大应变值时,应选用压阻效应工作的应变片,后者应变片阻值的相对变化主要由材料电阻率的相对变化来决定。

考题 当测量较小应变值时应选用()效应工作的应变片,而测量大应变值时应选用()效应工作的应变片。

考题 半导体应变片的灵敏度和电阻应变片的灵敏度相比()A、半导体应变片的灵敏度高B、二者相等C、电阻应变片的灵敏试验高D、不能确定

考题 下列哪些是半导体应变计的优点()。A、灵敏度高B、体积小、耗电省C、横向效应小D、机械滞后小,可测量静态应变、低频应变等

考题 测量小应变时,应选用灵敏度高的金属丝应变片,测量大应变时,应选用灵敏度低的半导体应变片。

考题 关于电阻应变片的粘贴,正确的方法是()。 ①应检查应变片的外观质量,同一测区应变片阻值相差要小。 ②不用对构件表面进行处理,直接将应变片粘贴上去。 ③用兆欧表检查应变片与试件之间的绝缘电阻,应大于200兆欧。 ④对应变片进行干燥处理和质量检查后,应及时对应变片进行防潮处理。A、④②③B、②④①C、①③④D、①②③④

考题 使用金属丝式电阻应变片测量构件应力时,当应力发变化生时,则应变片的()发生变化。A、电阻B、长度C、电阻和长度D、灵敏系数

考题 单选题关于电阻应变片的粘贴,正确的方法是()。 ①应检查应变片的外观质量,同一测区应变片阻值相差要小。 ②不用对构件表面进行处理,直接将应变片粘贴上去。 ③用兆欧表检查应变片与试件之间的绝缘电阻,应大于200兆欧。 ④对应变片进行干燥处理和质量检查后,应及时对应变片进行防潮处理。A ④②③B ②④①C ①③④D ①②③④

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考题 填空题当测量较小应变值时,应选用电阻应变效应工作的应变片,而测量大应变值时,应选用()效应工作的应变片,后者应变片阻值的相对变化主要由材料电阻率的相对变化来决定。

考题 判断题测量小应变时,应选择灵敏度高的金属丝应变片,测量大应变时,应选用灵敏度低的半导体应变片。()A 对B 错

考题 填空题当测量较小应变值时应选用()效应工作的应变片,而测量大应变值时应选用()效应工作的应变片。

考题 判断题测量小应变时,应选用灵敏度高的金属丝应变片,测量大应变时,应选用灵敏度低的半导体应变片。A 对B 错

考题 单选题电阻应变片的灵敏度系数K指的是()。A 应变片电阻值的大小B 单位应变引起的应变片相对电阻值变化C 应变片金属丝的截面积的相对变化D 应变片金属丝电阻值的相对变化

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考题 单选题()测量方法的主要特点是:测试灵敏度高、标距小、滞后小,并且在复杂的环境中也可完成应变测量。A 电阻应变片B 手持式应变仪C 振弦式应变计D 百分表

考题 单选题半导体应变片的灵敏度和电阻应变片的灵敏度相比()A 半导体应变片的灵敏度高B 二者相等C 电阻应变片的灵敏试验高D 不能确定