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下列因素中可能引起系统误差的有()。

  • A、游标卡尺测轴径时所产生的阿贝误差
  • B、光学比较仪的示值误差
  • C、测量过程中环境温度的随时波动
  • D、千分尺测微螺杆的螺距误差

参考答案

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考题 系统误差的正确表达是A、系统误差是可测误差B、系统误差是不可测误差C、系统误差是随机因素引起的D、系统误差是不可减小的E、系统误差是与检验条件无关的

考题 下列说法哪个是正确的A、系统误差是可测误差B、系统误差是随机因素引起的C、系统误差是与检验条件无关的D、系统误差是不可测误差E、系统误差是不可减小的

考题 在卫生理化检验中,检验结果可能存在下列误差,其中由于检验过程中操作不正确引起的是( )。A.系统误差 B.偶然误差 C.过失误差 D.可测误差 E.不可测误差

考题 影响游标卡尺测量误差的主要因素有()。A、结构违背阿贝原则引起的误差B、读数误差C、刻线误差D、测力引起的误差

考题 测量时,因仪器设计或摆置不良等所造成的系统误差,包括()、阿贝误差等。A、余弦误差B、正弦误差C、线性误差D、基本误差

考题 下列因素中不可能引起系统误差的有()。A、游标卡尺测轴径时所产生的阿贝误差B、测量人员的视差C、测量过程中环境温度的随时波动D、千分尺测微螺杆的螺距误差

考题 下列测量中属于相对测量的有()。A、用千分尺测外径B、用光学比较仪测外径C、用游标卡尺测外径D、用内径千分尺测量内径

考题 下列因素不会引起系统错误的有()A、测量人员的视差B、光学比较仪的示值误差C、测量过程中温度的波动D、千分尺测微螺杆的螺距误差

考题 使螺旋测微器的测微螺杆与测砧相接触,发现微分筒的零线与固定套筒的中线没有对齐,则表明测量时存在()。A、系统误差B、随机误差C、粗大误差D、相对误差

考题 消除误差源是消除系统误差的方法之一,主要是依靠测量人员对测量过程中可能产生系统误差的因素和环节做仔细分析,并在()将产生系统误差的因素和根源加以消除。A、测量之前B、测量过程中C、测量之后D、测量数据处理中

考题 测量过程中,由于测量条件发生意外的突变引起测量仪器示值的突然跳动而产生(),这是外界条件的客观因素。A、系统误差B、随机误差C、环境误差D、粗大误差

考题 下列测量中属于相对测量的有()。A、用千分尺测外径B、用光学比较仪测外径C、用内径百分表测内径D、用内径千分尺测量内径E、用游标卡尺测外径

考题 关于误差,下列论述中正确的有()。A、指示表的度盘与指针转轴间不同轴所产生的误差属于随机误差B、测量力大小不一致引起的误差,属随机误差C、测量被测工件的长度时,环境温度按一定规律变化而产生的测量误差属于系统误差D、测量器具零位不对准时,其测量误差属于系统误差E、由于测量人员一时疏忽而出现绝对值特大的异常值,属于随机误差

考题 频率测量时,引入误差的因素有()。A、测量方法引起的误差B、被测信号的调制引起的误差C、测量过程中基准频率引起的误差D、测量包括读数精度的技术特性引起的误差

考题 系统误差也称可测误差,是检验操作过程中由某一固定原因引起的误差,不是产生系统误差的原因是()A、方法误差B、仪器误差C、试剂误差D、过失误差

考题 测量上限大于()的千分尺,其示值误差可以只检定测微头的示值误差,该示值误差不超过±3um。

考题 游标卡尺的结构,是否符合阿贝原则?产生示值误差的主要因素是什么?

考题 测量上限大于150mm的外径千分尺可以只检测微头的示值误差。示值范围为25mm的其测微头示值误差不大于()。A、2mmB、3mmC、4mm

考题 下列几种误差中,属于系统误差的有()A、仪表未校零所引起的误差B、测频时的量化误差C、测频时的标准频率误差D、读数错误

考题 问答题游标卡尺的结构,是否符合阿贝原则?产生示值误差的主要因素是什么?

考题 多选题影响游标卡尺测量误差的主要因素有()。A结构违背阿贝原则引起的误差B读数误差C刻线误差D测力引起的误差

考题 多选题频率测量时,引入误差的因素有:()。A测量方法引起的误差B被测信号的调制引起的误差C测量过程中基准频率引起的误差D测量包括读数精度的技术特性引起的误差

考题 多选题下列因素中可能引起系统误差的有()。A游标卡尺测轴径时所产生的阿贝误差B光学比较仪的示值误差C测量过程中环境温度的随时波动D千分尺测微螺杆的螺距误差

考题 多选题下列几种误差中,属于系统误差的有()A仪表未校零所引起的误差B测频时的量化误差C测频时的标准频率误差D读数错误

考题 单选题下列测量中属于相对测量的有()。A 用千分尺测外径B 用光学比较仪测外径C 用游标卡尺测外径D 用内径千分尺测量内径

考题 单选题系统误差也称可测误差,是检验操作过程中由某一固定原因引起的误差,不是产生系统误差的原因是()A 方法误差B 仪器误差C 试剂误差D 过失误差

考题 填空题测量上限大于()的千分尺,其示值误差可以只检定测微头的示值误差,该示值误差不超过±3um。