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单选题
探头均匀性降低,光电倍增管、闪烁计数器、准直器、电子学线路的故障所产生的伪影为哪种原因所致( )
A

受检者的原因

B

来自放射性核素显像剂的原因

C

来自机械性的原因

D

来自显像技术方面的原因

E

其他原因


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考题 CT成像过程中将X线信号转换为可见光的是()。A.光电倍增管B.A/D转换器C.准直器D.滤过器E.闪烁晶体

考题 γ射线晶体闪烁计数器的主要部件为A、NaI闪烁晶体B、光电倍增管C、激发光源D、计数器E、废液收集器

考题 准直器选择不当、能窗设置不当、采集计数不足或过多、图像采集时间不正确、双核素同时采集时的交叉干扰、SPECT断层采集时步幅过大、数据处理时前滤波处理不当、截止频率过高或过低、计算机程序错误、色阶或辉度范围设置不当所产生的伪影为哪种原因所致 ( )A、受检者的原因B、来自放射性核素显像剂的原因C、来自机械性的原因D、来自显像技术方面的原因E、其他原因

考题 CT成像过程中将X线信号转换为可见光的是()A、光电倍增管B、A/D转换器C、准直器D、滤过器E、闪烁晶体

考题 闪烁计数器型的辐射仪,是由铊活化的碘化钠单晶、光电倍增管和电子电路构成。

考题 照相机的探头结构不包括()A、外壳接装环B、准直器和闪烁品体C、光导和光电倍增管D、陈列及前置电路E、数字扫描变换器等

考题 探头均匀性降低,光电倍增管、闪烁计数器、准直器、电子学线路的故障所产生的伪影为哪种原因所致()。A、受检者的原因B、来自放射性核素显像剂的原因C、来自机械性的原因D、来自显像技术方面的原因E、其他原因

考题 X荧光仪中探测器通常采用()A、光电倍增管B、闪烁计数器C、正比计数器D、NaCl晶体

考题 ()是X射线光谱仪的检测器。A、光电管B、光电倍增管C、闪烁计数器D、真空热电偶

考题 关于CT图像中伪影形成原因的叙述,下列哪项不对()A、放射状伪影:高密度物质所致B、杂乱伪影:重建过程故障所致C、环形伪影:数据采集系统故障所致D、假皮层伪影:扫描过程中患者运动所致E、条状伪影:CT采样过程中X线强度突然发生变化

考题 蒙片与造影片配准不良,会产生()A、雪花噪声B、运动性伪影C、卷折伪影D、容积效应E、金属伪影

考题 脉冲在探头和界面之间往返2次以上而产生的伪影称为()A、散射伪影B、折射伪影C、多途径伪影D、旁瓣伪影E、混响伪影

考题 关于CT图像中伪影形成的因素,下列描述哪项不对( )A、条状伪影:CT采样过程中X线强度突然发生变化B、折叠伪影:扫描过程中不自主运动所致C、杂乱伪影:重建过程故障所致D、放射状伪影:高密度金属所致E、环形伪影:数据采集系统故障所致

考题 X-荧光波谱分析仪(品位仪)的检测器一般有()A、正比计数器B、闪烁计数器C、光电倍增管

考题 X-荧光波谱分析仪(品位仪)的检测器一般有()A、正比计数器B、闪烁计数器C、光电倍增管D、数码管

考题 单选题关于CT图像中伪影形成原因的叙述,下列哪项不对()A 放射状伪影:高密度物质所致B 杂乱伪影:重建过程故障所致C 环形伪影:数据采集系统故障所致D 假皮层伪影:扫描过程中患者运动所致E 条状伪影:CT采样过程中X线强度突然发生变化

考题 单选题准直器选择不当、能窗设置不当、采集计数不足或过多、图像采集时间不正确、双核素同时采集时的交叉干扰、SPECT断层采集时步幅过大、数据处理时前滤波处理不当、截止频率过高或过低、计算机程序错误、色阶或辉度范围设置不当所产生的伪影为哪种原因所致()。A 受检者的原因B 来自放射性核素显像剂的原因C 来自机械性的原因D 来自显像技术方面的原因E 其他原因

考题 单选题关于CT伪影,叙述错误的是()。A 数据采集系统故障可产生伪影B 伪影在扫描和信息处理过程中产生C 缩短扫描时间可减少运动伪影D 设备调试不当可出现伪影E 降低毫安可减少运动伪影

考题 单选题CT成像过程中将X线信号转换为可见光的是()A 光电倍增管B A/D转换器C 准直器D 滤过器E 闪烁晶体

考题 单选题关于CT图像伪影的叙述,错误的是(  )。A 环状伪影:探测器通道故障B 放射状伪影:高密度物质或金属异物所致C 阴影状伪影:部分容积效应所致D 假皮层伪影:射线束硬化所致E 直线状伪影:CT采样频率较低所致

考题 单选题照相机的探头结构不包括()A 外壳接装环B 准直器和闪烁品体C 光导和光电倍增管D 陈列及前置电路E 数字扫描变换器等

考题 单选题准直器中内置滤过装置是为了减轻X线低吸收部分产生(  )。A 晕影B 伴影C 星状伪影D 点状伪影E 散射线