考题
以下关于折射率测定法的应用的范畴，哪一个是错误的?()A、可用于测定化合物的纯度;B、可用于测定溶液的浓度;C、可用于定性分析;D、可用于测定化合物的密度.
考题
可用于化合物的纯度测定的方法是A．薄层色谱(TLC)B．气相色谱(GC)C．高效液相色谱(HPLC)D．熔点E．均匀一致的晶型
考题
测定有机化合物中元素时,通常不包括哪些步骤( )
A.式样的分解B .干扰元素的消除C .有机元素的含量测定D. 纯度的测定
考题
可用于化合物的纯度测定的方法有A．薄层色谱(TLC)B．气相色谱(GC)C．高效液相色谱(HPLC)D．熔点E．均匀一致的晶型
考题
与判断化合物纯度无关的是()。
A、熔点的测定B、观察结晶的晶型C、闻气味D、测定旋光度
考题
可用于化合物的纯度测定的方法是A.薄层色谱(T1C)B.气相色谱(GC)C.高效液相色谱(HP1C)D.熔点E.均匀一致的晶型
考题
可用于化合物的纯度测定的方法有A.薄层色谱(T1C)B.气相色谱(GC)C.高效液相色谱(HP1C)D.熔点E.均匀一致的晶型
考题
可用于化合物的纯度测定的方法有A. 薄层色谱法
B. 气相色谱法
C. 熔点
D. 高效液相色谱法
E. 均匀一致的晶型
考题
检查化合物纯度的方法有A.熔点测定
B.薄层色谱法
C.纸色谱法
D.气相色谱法
E.高效液相色谱法
考题
判定单体化合物纯度的方法是A:膜过滤B:显色反应C:HPLCD:溶解度测定E:液-液萃取
考题
可用于化合物的纯度测定的方法有（）A薄层色谱（TLC）B气相色谱（GC）C高效液相色谱（HPLC）D熔点E均匀一致的晶型
考题
直接荧光分析法适用于测定（）A、自身具有荧光特性的待测药物B、不具荧光的化合物C、仅具有较弱荧光的化合物D、有荧光和无荧光化合物皆可测定E、无荧光经转变为有荧光化合物
考题
化合物结晶的纯度检查方法有（）A、观察晶体型B、颜色反应C、测定熔点D、TLC（纯品单一点）E、HPLC（纯品位单一峰）
考题
可用于化合物的纯度测定方法有（）A、熔点B、薄层色谱C、气相色谱D、高效液相色谱E、均匀一致的晶型
考题
与判断化合物纯度有关的有（）A、熔点测定B、选择三种以上的色谱条件检测C、观察晶形D、测定比旋光度E、闻气味
考题
与判断化合物纯度有关的是（）A、熔点测定B、选择3种以上的色谱条件检测C、观察晶形D、测定比旋光度E、闻气味
考题
通过测定物质的旋光度和比旋光度，可以检查化合物的纯度。（）
考题
检查化合物纯度的方法有（）A、熔点测定B、薄层色谱法C、纸色谱法D、气相色谱法E、高效液相色谱法
考题
直接荧光分析法适用于测定（）A、自身具有荧光特性的待测物质B、不具荧光或仅具较弱荧光的化合物测定C、仅具有较弱荧光的化合物D、有荧光和无荧光化合物皆可测定
考题
多选题可用于化合物的纯度测定方法有（）A熔点B薄层色谱C气相色谱D高效液相色谱E均匀一致的晶型
考题
判断题薄层色谱可用于化合物纯度的鉴定，有机反应的监控，不能用于化合物的分离。A
对B
错
考题
多选题化合物结晶的纯度检查方法有（）A观察晶体型B颜色反应C测定熔点DTLC（纯品单一点）EHPLC（纯品位单一峰）
考题
多选题与判断化合物纯度有关的是（）A熔点测定B选择3种以上的色谱条件检测C观察晶形D测定比旋光度E闻气味
考题
多选题检查化合物纯度的方法有（）A熔点测定B薄层色谱法C纸色谱法D气相色谱法E高效液相色谱法
考题
多选题与判断化合物纯度有关的有（）A熔点测定B选择三种以上的色谱条件检测C观察晶形D测定比旋光度E闻气味
