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单选题
几何因素不适当、胶片和铅屏接触不良以及胶片粒度是造成下列哪种情况的可能原因:()
A

胶片密度过高

B

清晰度不好

C

胶片灰雾

D

胶片密度过低


参考答案

参考解析
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考题 影响照片颗粒度的因素不包括A、X线量子斑点B、胶片卤化银颗粒因素C、胶片对比度因素D、增感屏因素E、被照体因素

考题 产生几何模糊的三大要素是A.焦点尺寸B.被照体移动C.焦点与胶片距离D.被照体与胶片距离E.屏一片接触不良

考题 改善几何不清晰度可利用()。A、小焦点、大焦点、胶片与工件紧贴B、采用细粒度胶片C、使用铅增感D、以上全不对

考题 使用铅增感屏时,如果(),会造成射线照相图像模糊。A、 增感屏上有手指印B、 增感屏表面有锡包复层C、 增感屏与胶片接触不良D、 增感屏表面肮脏

考题 产生几何模糊的三大要素是()。A、焦点尺寸B、被照体移动C、屏-片接触不良D、焦点与胶片距离E、被照体与胶片距离

考题 使用铅增感屏时,如果(),会造成射线照相图像模糊A、增感屏上有水珠B、增感屏表面有划伤C、增感屏与胶片接触不良D、增感屏与胶片之间有外来物

考题 采用中子照相法时,下列哪一种曝光方法是正确的?()A、直接用X射线胶片曝光B、利用镉屏和钆屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光C、利用铅箔增感屏加X射线胶片曝光D、利用荧光增感屏加X射线胶片曝光

考题 显影后呈现在射线底片上的亮的皱折痕迹是由于什么原因造成的?()A、静电感光B、铅增感屏划伤C、曝光前胶片受折D、曝光后胶片受折

考题 影响底片清晰度的因素有()A、散射线B、几何因素C、胶片粒度D、以上都是

考题 几何因素不适当、胶片和铅屏接触不良以及胶片粒度是造成下列哪种情况的可能原因:()A、胶片密度过高B、清晰度不好C、胶片灰雾D、胶片密度过低

考题 当几何不清晰度选择不当,或胶片与铅箔增感屏接触不良,或者胶片的粒度太大,可能会引起什么结果?()A、底片密度高B、底片清晰度不好C、底片有灰雾D、底片密度低

考题 几何因素不适当、胶片和铅箔增感屏接触不良以及胶片粒度大小将可能造成()A、底片黑度过高B、清晰度不好C、底片灰雾度大D、底片黑度过低

考题 引起射线底片清晰度差的原因可能是()A、焦点尺寸过大B、射源到胶片的距离过小C、胶片与增感屏接触不良D、以上都是

考题 射线照相的灵敏度受()影响。A、射线的能量B、几何因素与胶片粒度C、胶片的反差系数D、A、B和C

考题 曝光过程中,与X射线胶片紧密接触的铅增感屏可提高底片黑度,其原因是()。A、铅增感屏会产生可见光和荧光B、铅屏可吸收散射线C、防止背散射造成胶片灰雾D、铅屏受X射线和γ射线照射会发生二次电子

考题 造成底片清晰度不良的原因是()A、 射线源焦点尺寸太大B、 源到底片的距离过小C、 胶片与增感屏接触不良D、 以上都是

考题 改善几何不清晰度可利用()。A、小焦点、大焦距、胶片与工件紧贴B、采用细粒度胶片C、使用铅增感D、以上都不对

考题 多选题产生几何模糊的三大要素是()。A焦点尺寸B被照体移动C屏-片接触不良D焦点与胶片距离E被照体与胶片距离

考题 单选题改善几何不清晰度可利用()。A 小焦点、大焦点、胶片与工件紧贴B 采用细粒度胶片C 使用铅增感D 以上全不对

考题 单选题几何因素不适当、胶片和铅箔增感屏接触不良以及胶片粒度大小将可能造成()A 底片黑度过高B 清晰度不好C 底片灰雾度大D 底片黑度过低

考题 单选题由于增感屏使用不当的原因,在底片上出现黑度不均匀,灰雾度增加,这是因为()A 增感屏和胶片紧贴合在一起。B 增感屏和胶片未贴紧。C 使用的胶片厚度太大。D 胶片粒度粗大

考题 单选题引起射线底片清晰度差的原因可能是()A 焦点尺寸过大B 射源到胶片的距离过小C 胶片与增感屏接触不良D 以上都是

考题 单选题显影后呈现在射线底片上的亮的皱折痕迹是由于什么原因造成的?()A 静电感光B 铅增感屏划伤C 曝光前胶片受折D 曝光后胶片受折

考题 单选题当几何不清晰度选择不当,或胶片与铅箔增感屏接触不良,或者胶片的粒度太大,可能会引起什么结果?()A 底片密度高B 底片清晰度不好C 底片有灰雾D 底片密度低

考题 单选题使用铅增感屏时,如果(),会造成射线照相图像模糊A 增感屏上有水珠B 增感屏表面有划伤C 增感屏与胶片接触不良D 增感屏与胶片之间有外来物

考题 单选题采用中子照相法时,下列哪一种曝光方法是正确的?()A 直接用X射线胶片曝光B 利用镉屏和钆屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光C 利用铅箔增感屏加X射线胶片曝光D 利用荧光增感屏加X射线胶片曝光

考题 单选题显影后呈现在底片上的亮的周折痕迹是由什么原因造成的:()A 静电感光B 铅增感屏划伤C 曝光前拿胶片不当D 曝光后拿胶片不当