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在粗糙表面或曲面工件上作直探头检测时,应使用()。

  • A、硬保护膜探头
  • B、软保护膜探头
  • C、大尺寸探头
  • D、高频直探头

参考答案

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考题 在曲面工件上钻孔时,钻头()被钻部位的表面。

考题 游标卡尺不能作划线工具和夹持工作,不准测粗糙的表面或磁性工件。

考题 在同一工件上,工作表面的粗糙度一般()非工作表面的粗糙度数值。A、小于B、等于C、大于D、大于或等于

考题 大口径钢管手工接触法检测时,对平行于管轴的纵向缺陷,应选择的探头和扫查方法 是()。A、 直探头作径向扫查B、 斜探头作周向扫查C、 直探头作轴向扫查D、 以上都不对

考题 与表面光滑的零件相比,表面粗糙的零件作超声波检测时,通常使用频率较()的探头和粘度较()的耦合剂

考题 管座角焊缝超声检测时,应采取的检测方式是()。A、 在接管内表面用直探头检测B、 在接管内表面用斜探头检测C、 在容器外表面用斜探头检测D、 以上一种或几种方式组合应用

考题 斜探头的楔块应采用()的材料制成,它的功能是将()按给定的()斜射到工件表面,在界面发生折射,形成()或()或()在工件中传播

考题 以下哪些是目视检测的必要检测条件()A、被检工件表面的光照度应至少达到500Lx。B、眼睛与被检工件的夹角应大于30°。C、眼睛距离被检区域的距离应不超过600mm。D、目视检测时一定要使用放大镜

考题 单斜探头检测时,在近区有幅度波动较快,探头移动时水平位置不变的回波,它们可能是()A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声

考题 在毛面或曲面工件上作直探头探伤时,应使用:()A、硬保护膜直探头B、软保护膜直探头C、大尺寸直探头D、高频直探头

考题 用连续法检测时,检测灵敏度不仅与被检工件表面磁场强度有关,还受被检工件材质的影响。

考题 工件表面形状不同时,对耦合效果将产生不同影响,下面的说法中()是正确的。A、 平面最好,凸曲面居中,凹曲面效果最差B、 凹曲面最好,平面居中,凸曲面效果最差C、 凸曲面最好,凹曲面居中,平面效某最差D、 粗糙表面比平滑表面更容易实现耦合

考题 软保护膜探头适合用于粗糙表面的工件探伤。

考题 与表面光滑的工件相比,表面粗糙的工件直接接触探伤时,应使用()。A、频率较底的探头和粘度小的耦合剂B、频率较高的探头和粘度大的耦合剂C、频率较底的探头和粘度大的耦合剂D、以上都对

考题 耦合剂的主要作用是()A、补偿被探件表面粗糙B、补偿因曲面引起的灵敏度下降C、确保探头与工件声能的传递D、补偿工件因晶粒度大引起的散射衰减

考题 在毛面或曲面工件上作直探头探伤时,应用()直探头。

考题 在平整光洁表面上作直探头探伤是宜使用硬保护膜探头,因为这样()A、虽然耦合损耗大,但有利于减小工件中噪声B、脉冲窄,探测灵敏度高C、探头与仪器匹配较好D、以上都对

考题 填空题在毛面或曲面工件上作直探头探伤时,应用()直探头。

考题 填空题与表面光滑的零件相比,表面粗糙的零件作超声波检测时,通常使用频率较()的探头和粘度较()的耦合剂

考题 单选题单斜探头检测时,在近区有幅度波动较快,探头移动时水平位置不变的回波,它们可能是()。A 来自工件表面的杂波B 来自探头的噪声C 工件上近表面缺陷的回波D 耦合剂噪声

考题 单选题在平整.光洁表面上作直探头探伤是宜使用硬保护膜探头,因为这样:()A 虽然耦合损耗大,但有利于减小工件中噪声B 脉冲窄,探测灵敏度高C 探头与仪器匹配较好D 以上都对

考题 多选题以下哪些是目视检测的必要检测条件()A被检工件表面的光照度应至少达到500Lx。B眼睛与被检工件的夹角应大于30°。C眼睛距离被检区域的距离应不超过600mm。D目视检测时一定要使用放大镜

考题 多选题无损检测对钢结构焊缝的外观要求,正确的说法是()。A对于UT:探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其他杂质。被检面应平整,便于探头的扫查,其表面粗糙度Ra值应不小于或等于6.3μm,一般应进行打磨。B对于RT:在射线检测之前,对焊接接头的表面应经外观检查并合格。表面不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像,否则应对表面作适当处理。C对于MT:被检工件表面不得有油脂、铁锈、氧化皮或其他粘附磁粉的物质。表面的不规则状态不得影响检测结果的正确性、完整性,否则应作适当的修磨。D对于PT:工件被检表面不得有影响渗透检测的铁锈、氧化皮、焊接飞溅、铁屑、毛刺以及各种防护层。

考题 单选题管座角焊缝超声检测时,应采取的检测方式是()。A  在接管内表面用直探头检测B  在接管内表面用斜探头检测C  在容器外表面用斜探头检测D  以上一种或几种方式组合应用

考题 单选题耦合剂的主要作用是()A 补偿被探件表面粗糙B 补偿因曲面引起的灵敏度下降C 确保探头与工件声能的传递D 补偿工件因晶粒度大引起的散射衰减

考题 单选题在粗糙表面或曲面工件上作直探头检测时,应使用()。A 硬保护膜探头B 软保护膜探头C 大尺寸探头D 高频直探头

考题 单选题在毛面或曲面工件上作直探头探伤时,应使用:()A 硬保护膜直探头B 软保护膜直探头C 大尺寸直探头D 高频直探头